原子力显微镜

日期： 2019-01-09 15:38:00
阅读： 0

仪器名称	原子力显微镜（Atomic Force Microscope）
型号	5400
生产厂家	安捷伦科技有限公司(Agilent Technologies, Inc.)
主要性能	1）高分辨力性能远远超过扫描电子显微镜（SEM），以及光学粗糙度仪。样品表面的三维数据满足了研究、生产、质量检验越来越微观化的要求。
	2）非破坏性，探针与样品表面相互作用力为10－8N以下，远比以往触针式粗糙度仪压力小，因此不会损伤样品，也不存在扫描电子显微镜的电子束损伤问题。另外扫描电子显微镜要求对不导电的样品进行镀膜处理，而原子力显微镜则不需要。
	3）软件处理功能强，其三维图象显示其大小、视角、显示色、光泽可以自由设定。并可选用网络、等高线、线条显示。图象处理的宏管理，断面的形状与粗糙度解析，形貌解析等多种功能。
主要指标	1）扫描范围：水平方向≤100μm，垂直方向≤8μm
	2）噪音水平：水平方向≤1nmRMS，垂直方向≤0.1nmRMS
	3）样品尺寸：开放式平台系统，提供各种超大样品的测量
主要附件	100μm Scanner 、Detector and Si3N4 tips
可测定样品	广泛应用于生命科学、材料科学、物理和化学等领域，可在大气及溶液中对各类材料纳米尺度的表面形貌及物理化学特性进行研究，如尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。
使用注意事项	1）测量前要按照先开硬件再开软件的原则开机，以免造成开机后的软件报错；
	2）扫描头属于核心精密部件，务必轻拿轻放。
	3）探针较易损坏且价格昂贵，需严格按照操作程序操作
	4）仪器使用完毕后取下样品，抬高扫描头，关闭电脑和显示器
存放地点	第二化学楼209室
负责人	胡国文
负责人联系电话	13893308223
负责人Email	hugw@lzu.edu.cn